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X-ray荧光-XRF Hitachi XRF自动智能搜寻系统
XRF检测完样品后，都只能另存个别档案(word或excel)到计算机，若未来要找某一笔数据，只能根据记忆搜索而非常耗时；Hitachi XRF全新【智能搜索数据系统】，可根据日期、厂商、品名、测试元素等筛选，增加搜寻及导出速度。
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X-ray荧光-XRF 在线型XRF分析仪Vanta iX重磅问世
Olympus重磅推出线上型XRF分析仪Vanta iX (On-Line XRF)，进一步更新在线型XRF热门机款FOX-IQ。可以连续7天24小时不间断于生产过程中分析，百分百(100%)验证各个合金的浓度，以及金属牌号是否正确。
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X-ray荧光-XRF EA 1400的新型检测器SDD跟传统XRF检测器SDD的巨大差异
EA1400 VX搭配新型高光通量的检测器silicon drift detector SDD比传统SDD XRF光电子效率增加30~75%，对于轻元素钠(Na)、镁(Mg)、铝(Al)、硅(Si)、磷(P)、硫(S)、钙(Ca)的定性及定量应用比同样SDD检测器的机型灵敏度高8~10倍以上，适合金属、陶瓷、高分子领域应用，与我们之前的型号EA1000VX或同类型SDD XRF相比，测量黄铜和其他金属中痕量元素镉(Cd)的检测下限及降低测试时间的效益增加2倍以上。
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热传导-TC 热传导检测技术介绍
热传导系数（热导率、K值）其单位为W/mK，其为材料传导热能的能力。并会受到温度、晶粒大小、晶型、化学组成而影响。此篇文章介绍各式的热传导检测技术并做比较。
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质谱仪-Mass InfiTOF半导体复杂反应气体的实时监控系统
InfiTOF 是全球第一台在线实时监控的高解析TOF飞行质谱仪, 可以准确实时(Real Time)监控各种生产在线的反应气体, 对于半导体应用的反应气体中, 一般四极柱质谱仪无法分离的种类繁多的分子量类似的分子, 可以利用InfiTOF来实时监控, 对于半导体中反应快速, 活性又高的分子直接利用高分辨率TOF, 高灵敏度的实时质谱监控是最好选择。
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X荧光-XRF 金属膜厚/重金属RoHS/映像-三功能XRF EA 6000VX
常见XRF根据光束大小、光通量、分辨率、准确度、补正功能、应用软件可以分为膜厚仪Thickness guage XRF，Mapping映像 XRF，RoHS 用XRF。
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质谱仪 高解析质谱仪msFineAnalysis软件：自动化图谱解析软件
利用高解析质谱仪，解析一个含有数十种未知复合材料样品，通常需要一个繁琐的流程与花费时间，短则数天，长则数周，需要花费大量时间与精力来获得较好的分析结果，来确认图谱能解析出的所有信息。
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热分析 TMA/热机械分析仪/热膨胀系数仪原理及应用
TMA最重要的参数就是力量大小及精细度另外就是LVDT的尺寸量测灵敏度, 力量大小牵涉到可以作什么样的应用, 例如软化点测试, 可能力量就会用到5N,且较大的力量所能应用的材料种类也更加的广泛，力量分辨率则是代表所能控制的精细程度, 例如测试杨氏系数时SS curve 模式下就需要控制每分钟多少力量增加速度, 而LVDT传感器其尺寸变化灵敏度就影响到测试时样品细微的尺寸变化都能量测到。
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热传导 Hot Disk量测薄型高导热材料的应用技术
Hot Disk自1992年以来一直着手于提供一种可靠、方便且有效的方式来量测各种材料的热传导特性。该方法开发后不久，便决定开始评估量化薄型金属片导热能力，同时也意识到许多客户有此种材料的测试需求；一般来说，散热用的合金通常价格较高且产量有限。
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热传导 热传导/热扩散/热阻/热逸散测试 常用国际标准方法及建议设备型号
热传导相关标准测试方法与应用方向有七种，包括ASTM D5334、ASTM E1530、ASTM D7896、DIN EN 12667、ISO 8301、ASTM D7984、ISO 22007-2等方法。ASTM D5334 利用热探针测试土壤样本以及软岩样本，ASTM E1530 利用隔绝热流计技术评估热阻到热穿透性评估
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