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X-ray荧光-XRF Hitachi XRF自动智能搜寻系统
XRF检测完样品后，都只能另存个别档案(word或excel)到计算机，若未来要找某一笔数据，只能根据记忆搜索而非常耗时；Hitachi XRF全新【智能搜索数据系统】，可根据日期、厂商、品名、测试元素等筛选，增加搜寻及导出速度。
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X-ray荧光-XRF 在线型XRF分析仪Vanta iX重磅问世
Olympus重磅推出线上型XRF分析仪Vanta iX (On-Line XRF)，进一步更新在线型XRF热门机款FOX-IQ。可以连续7天24小时不间断于生产过程中分析，百分百(100%)验证各个合金的浓度，以及金属牌号是否正确。
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X-ray荧光-XRF EA 1400的新型检测器SDD跟传统XRF检测器SDD的巨大差异
EA1400 VX搭配新型高光通量的检测器silicon drift detector SDD比传统SDD XRF光电子效率增加30~75%，对于轻元素钠(Na)、镁(Mg)、铝(Al)、硅(Si)、磷(P)、硫(S)、钙(Ca)的定性及定量应用比同样SDD检测器的机型灵敏度高8~10倍以上，适合金属、陶瓷、高分子领域应用，与我们之前的型号EA1000VX或同类型SDD XRF相比，测量黄铜和其他金属中痕量元素镉(Cd)的检测下限及降低测试时间的效益增加2倍以上。
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热传导-TC 热传导检测技术介绍
热传导系数（热导率、K值）其单位为W/mK，其为材料传导热能的能力。并会受到温度、晶粒大小、晶型、化学组成而影响。此篇文章介绍各式的热传导检测技术并做比较。
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质谱仪-Mass InfiTOF半导体复杂反应气体的实时监控系统
InfiTOF 是全球第一台在线实时监控的高解析TOF飞行质谱仪, 可以准确实时(Real Time)监控各种生产在线的反应气体, 对于半导体应用的反应气体中, 一般四极柱质谱仪无法分离的种类繁多的分子量类似的分子, 可以利用InfiTOF来实时监控, 对于半导体中反应快速, 活性又高的分子直接利用高分辨率TOF, 高灵敏度的实时质谱监控是最好选择。
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X荧光-XRF 金属膜厚/重金属RoHS/映像-三功能XRF EA 6000VX
常见XRF根据光束大小、光通量、分辨率、准确度、补正功能、应用软件可以分为膜厚仪Thickness guage XRF，Mapping映像 XRF，RoHS 用XRF。
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