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X-ray影像-X-ray 3D X-ray CT断层扫描应用于多孔性材料的孔隙分析
由于多孔性材料的表征对于各种性能有极大的影响,所以孔隙分析对于多孔性材料很重要。利用CT断层扫描可以观测孔形以及计算其孔隙度、平均孔径等等。
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X-ray荧光-XRF Hitachi XRF每周校正的必要性
桌上型XRF的校正的频率为「每周一次」,项目包含:1.能量校正 2.强度校正 3.分辨率校正,使用原厂制作的校正板来进行,而校正板的用途是「确认仪器硬件运作的状态」,并无有效期限的限制。
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X-ray荧光-XRF 镀层(Coating)膜厚监控,运用XRF有效稳定控管产品质量!
日立Hitachi EA系列是到目前为止全球普遍用来作为RoHS及无卤素监控的XRF设备,从SEA1000A, SEA1000AII,进化到EA1000AIII, EA1000VX, EA1200VX,至目前高阶的高感度EA1400,皆可扩用至膜厚分析。
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质谱仪-Mass GCMS快速又精确的定性分析新方法:msFineAnalysis自动分析软件
一般GCMS使用EI测量数据,经常获得多个可能性、错误化合物当作比对结果。因此,需要软性游离源PI,透过自动分析软件msFineAnalysis IQ,将EI/PI数据“综合分析”大幅提高化合物定性精确度。
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热传导-TC 纳米流体浓度与导热特性的关系
在设计节能电器、工具和结构时,无数行业都依赖于具有高导热性的材料,亦根据需求发展出混合性的传热流体。但添加高导热混合材的浓度是否真的是越高越好呢?
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X-ray荧光-XRF 轻元素不再困扰,Hitachi EA1400让你「轻」松检测
XRF荧光元素分析仪过往用于RoHS限用物质,对于较低的轻元素含量或邻近之轻元素,无法有较好的分析能力 ; 而去年发表搭载新型高感度检测器的Hitachi EA1400,对于现行材料分析上的「轻」元素类别:钠(Na)、镁(Mg)、铝(Al)、硅(Si)、磷(P)、硫(S)、氯(Cl),有绝佳的分析能力。